Les interactions des particules chargées avec la matière

dc.contributor.authorLaiche Siham Tebib Sara
dc.date.accessioned2024-12-04T07:50:26Z
dc.date.available2024-12-04T07:50:26Z
dc.date.issued2020
dc.description.abstractLa méthode de Monte Carlo est un outil efficace pour la simulation des trajectoires aléatoires des ions et des électrons lors des bombardements de la surface de composés semi-conducteurs par des faisceaux d’ions ou d’électrons. Après un rappel théorique décrivant la technique de Monte Carlo relative au bombardement ionique et électronique, on a utilisé des logiciels SRIM et CASINO pour simuler respectivement l’interaction ions avec la matière et l’int eraction des électrons avec mat ière. Les résultats obtenus sont donnés sous formes de tableaux et sous formes de courbes relatant les différents phénomènes liés au pouvoir d’arrêt, la distance parcourue des ions dans la matière et les effets de génération de rayon X par les faisceaux des électrons. Les résultats sont comparés avec ceux de l’utilisation des microscopes MEB et du dopage des matériaux semi-conducteurs pour la fabrication des composants électroniques et optoélectronique
dc.identifier.urihttp://dspace.univ-khenchela.dz:4000/handle/123456789/7632
dc.language.isofr
dc.titleLes interactions des particules chargées avec la matière
dc.typeThesis
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